内容简介
本书在简单介绍X射线衍射分析原理的基础上, 重点介绍X射线衍射分析法在材料研究方面的应用。主要包括晶体学基础与X射线运动学衍射原理 ; 现代X射线衍射仪测试原理 ; X射线衍射仪测量方法与分析技术 ; X射线衍射谱线分析与应用 ; X射线衍射物相分析 ; 晶体点阵常数精确测定 ; 宏观内应力测定 ; 织构测定与单晶定向 ; Rietveld方法简介。
X射线衍射测试分析基础教程
作者:
徐勇，范小红主编
出版社: 化学工业出版社
出版时间: 2014年01月
页数: 173页
中图法分类: O
ISBN: 9787122185501
出版社: 化学工业出版社
出版时间: 2014年01月
页数: 173页
中图法分类: O
ISBN: 9787122185501
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